AUTORE

ll prof. Giuseppe Schirripa Spagnolo è nato nel 1955. Si è laureato (cum laude) in Fisica nel 1978 presso l’Università degli Studi Della Calabria. Dal 1979 al 1984 si è occupato di ricerca è sviluppo industriale presso la Soc. SEA (Strumentazione Elettronica Avanzata). In questo ambito professionale, si è interessato della progettazione, realizzazione e collaudo di sistemi elettronici per controlli ambientali con particolare attenzione al controllo della radioattività naturale ed artificiale. In questo periodo, per conto della Soc. SEA, il Prof. Schirripa ha lavorato presso la centrale Elettronucleare di Caorso e presso il Centro ENEA della Trisaia.
Dal 08.04.81 al 08.10.82 ha prestato servizio militare di leva in qualità di Ufficiale di Complemento nella Marina Militare Italiana.
Dal 1985 al 1998 ha prestato servizio presso la Facoltà di Ingegneria dell’Università degli Studi Dell’Aquila in qualità di Ricercatore Universitario.
Nel 1986 è stato “visiting researcher” presso l’ Università del Wisconsin–Madison (USA).
Nel 1998 ha preso servizio, in qualità di Professore Associato, presso la Facoltà di Ingegneria Dell’Università “Roma Tre” (posizione che attualmente riveste).
La principale attività di ricerca del prof. G. Schirripa Spagnolo riguarda la progettazione e la realizzazione di sistemi optoelettronici non convenzionali per la diagnosi non distruttiva dello stato di conservazione delle opere d'arte (Elettronica per i Beni Culturali) e per applicazioni nel campo della sicurezza. Attualmente si occupa di sistemi ottici per l’individuazione della  falsificazione di documenti e banconote. Inoltre, il prof. Schirripa si occupa di metrologia ottica, di elaborazioni digitale delle immagini e di colorimetria.
In particolare si possono individuare due sottosettori di ricerca.
a) Messa a punto e progettazione di tecniche non convenzionali per la diagnosi non distruttiva dello stato di conservazione di reperti storico-artistici.
In quest’ambito gli studi sono rivolti, principalmente, all’individuazione (tramite strumentazione optoelettronica appositamente progettata e realizzata) di microcrack, scollamenti, distacchi e stati di tensione in opere d’arte di varia natura e con differente stato di conservazione. Lo scopo delle ricerche è quello di fornire agli addetti del settore conservazione e restauro dei manufatti artistici, sensori e metodologie d’indagine per la diagnosi di danni incipienti e una valutazione oggettiva sulla bontà o meno degli interventi di consolidamento.
b) Sviluppo di sistemi e tecniche per misura di costanti fisiche, individuazione della falsificazione di documenti, colorimetrie ed elaborazione digitale delle immagini.
Questa tematica di ricerca è orientata alla messa a punto di strumentazione e/o sensori da utilizzare come misuratori di distanza o per la determinazione di profili tridimensionali. In particolare, la profilometria, branca della metrologia che si occupa della misura della forma 3D degli oggetti, sta assumendo negli ultimi anni grande interesse nelle applicazioni industriali. La necessità di ottenere informazioni sempre più accurate e ad alta velocità sulla forma tridimensionale degli oggetti, ha spinto ad uno sviluppo considerevole di una vasta gamma di tecniche profilometriche innovative. In questo settore si sono inseriti alcuni studi improntati allo sviluppo di nuove tecniche e sistemi di recupero delle informazioni 3D. In particolare, il prof. Schirripa si è occupato del possibile uso di approcci attivi (topometrici) che utilizzano principi di triangolazione basati sulla proiezione di luce strutturata ottenuta tramite componenti ottici diffrattivi.